一种电子产品可靠性加速试验方法

标题：一种电子产品可靠性加速试验方法

摘要：本发明公开了一种电子产品可靠性加速试验方法，属于可靠性设计、试验领域。所述方法包括首先根据所述原电子产品可靠性常规试验所得的工作应力极限预置加速试验温度变化曲线边界，并仿真计算温度加速因子，根据所述温度加速因子修改并确定初步加速试验温度应力变化曲线；其次，根据所述初步加速试验温度应力变化曲线及原电子产品可靠性常规试验的试验剖面计算振动加速因子，根据所述振动加速因子计算加速试验振动应力变化曲线，并根据所述加速试验振动应力变化曲线确定最终温度应力变化曲线，确定加速试验时间。本发明采用超产品工作应力的试验考核思路，通过适当的提高试验应力水平，缩短试验时间，对电子产品的可靠性试验进行加速，实现加速因子的多样、可控。

申请号：CN201510923243.7

申请日：2015/12/11

申请人：中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所

首项权利要求：一种电子产品可靠性加速试验方法，其特征在于：包括：步骤一、获取所述原电子产品可靠性常规试验的试验剖面，所述原电子产品可靠性常规试验的试验剖面包括在同一循环周期内的原温度应力变化曲线、原振动应力变化曲线、原湿度应力变化曲线以及原电应力变化曲线；步骤二、根据所述原电子产品可靠性常规试验的试验剖面预置加速试验温度变化曲线，并计算温度加速因子，根据所述温度加速因子修改并确定初步加速试验温度应力变化曲线。步骤三、根据所述初步加速试验温度应力变化曲线及原电子产品可靠性常规试验的试验剖面计算振动加速因子，根据所述振动加速因子计算加速试验振动应力变化曲线，并根据所述加速试验振动应力变化曲线确定最终温度应力变化曲线，确定加速试验时间。步骤四、在所述加速试验时间内，按产品规范的要求施加加速电应力变化曲线以及加速湿度应力变化曲线。

专利类型：发明申请