一种表面发射率测量系统

标题：一种表面发射率测量系统

摘要：本发明公开了一种表面发射率测量系统，涉及发射率测量技术领域。所述表面发射率测量系统包含红外测温探测器、接触式热力学温度传感器、信号处理电路及计算机；所述接触式热力学温度传感器设置在待测目标物体的表面，将所述待测目标物体的表面热力学温度信号发送至所述信号处理电路；所述红外测温探测器设置在所述待测目标物体的上侧，将所述待测目标物体表面的辐射温度信号经过处理后发送至信号处理电路；所述信号处理电路将接收到的信号进行调理，然后发送至所述计算机；所述计算机用于对待测目标物体表面的发射率进行计算处理、数据显示与存储。本发明的有益效果在于：统结构简单易于安装和维护，不需要对目标材料进行取样，测量精度高。

申请号：CN201610453583.2

申请日：2016/6/22

申请人：中国航空工业集团公司沈阳发动机设计研究所

首项权利要求：一种表面发射率测量系统，其特征在于：包含红外测温探测器(1)、接触式热力学温度传感器(2)、信号处理电路及计算机(3)；所述接触式热力学温度传感器(2)设置在待测目标物体(6)的表面，将所述待测目标物体(6)的表面热力学温度信号发送至所述信号处理电路；所述红外测温探测器(1)设置在所述待测目标物体(6)的上侧，将所述待测目标物体(6)表面的辐射温度信号经过处理后发送至信号处理电路；所述信号处理电路将接收到的待测目标物体(6)的表面热力学温度信号、待测目标物体(6)表面处理后的辐射温度信号进行调理，然后发送至所述计算机(3)；所述计算机(3)用于对待测目标物体(6)表面的发射率进行计算处理、数据显示与存储。

专利类型：发明申请