一种电子设备可靠性定量评估方法

标题：一种电子设备可靠性定量评估方法

摘要：本发明公开了一种电子设备可靠性定量评估方法，属于航空电子设备技术领域。包括以下步骤：步骤一、编制航空电子设备的机械、气候环境载荷谱；步骤二、建立航空电子设备典型结构的有限元模型；步骤三、采用特征建模、局部节点合并和局部节点自由度耦合方法，对典型结构施加步骤一中得到的载荷谱；在有限元计算软件中分别进行动力响应分析和温度耦合分析，得到应力和位移分布情况；步骤四、利用首次破坏机制和疲劳累积损伤机制，对典型结构的结构可靠性进行计算，得到典型结构的破坏概率；步骤五、利用蒙特卡洛法抽样，对设备的各个模块按照步骤四进行结构可靠性分析，然后选取可靠性水平最低的模块作为整个电子设备的结构可靠性评估结果。

申请号：CN201710112948.X

申请日：2017/2/28

申请人：中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所

首项权利要求：一种电子设备可靠性定量评估方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、编制航空电子设备机械、气候环境载荷谱；a)根据航空电子设备所服役的飞机的机械和气候环境空测数据，分析机械和振动载荷的全机分布规律后，确定机械和温度载荷的回归数学模型；b)根据飞机的典型任务剖面并使用可靠性试验剖面编制方法和数据处理原则，编制航空电子设备的机械、气候环境载荷谱；步骤二、建立航空电子设备典型结构的有限元模型；步骤三、对电子设备典型结构进行动力响应分析和温度耦合分析；c)收集航空电子设备典型结构的连接方式并对连接方式进行分类；d)对印刷板和电子设备进行等效处理，并采用特征建模、局部节点合并和局部节点自由度耦合方法，对典型结构施加步骤一中得到的载荷谱；e)在有限元计算软件中分别进行动力响应分析和温度耦合分析，得到应力和位移分布情况；步骤四、对典型结构的结构可靠性进行分析；利用首次破坏机制和疲劳累积损伤机制，对典型结构的结构可靠性进行计算，得到典型结构的破坏概率；步骤五、对设备模块及整机的结构可靠性抽样仿真计算和评估；利用蒙特卡洛法抽样，对设备的各个模块按照步骤四进行结构可靠性分析，然后选取可靠性水平最低的模块作为整个电子设备的结构可靠性评估结果。

专利类型：发明申请