频率响应分析测量中扫频方法

标题：频率响应分析测量中扫频方法

摘要：本发明提出了一种频率响应分析测量中扫频方法。该方法包括以下步骤：设定相邻两个扫频频率点之间幅频特性的幅值增益的变化量，以及扫频频率的最小值和最大值；读取当前扫频点以及前序扫频点对应幅频特性数据，或者读取当前扫频点以及前序扫频点对应相频特性数据；选取扫频点及其对应的幅频特性数据，或者选取扫频点及其对应相频特性数据，通过数值分析预测计算下一个扫频点频率值；判断计算完扫频段全部扫频点否，如未完则返回继续扫频频率的计算；如已经完成扫频段全部扫频点计算，则结束。该方法根据已测量得到的幅频特性或相频特性数据自动实现扫频点的预测计算，具有扫频效率高、测量精度高，保证被测对象安全，通用性、实用性强，可靠性高。

申请号：CN201811581116.3

申请日：2018/12/24

申请人：中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所

首项权利要求：1.一种频率响应分析测量中扫频方法，其特征在于：包括以下步骤：
S11，设定相邻两个扫频频率点之间幅频特性的幅值增益的变化量，以及扫频频率的最小值和最大值；
S12，读取当前扫频点以及前序扫频点对应幅频特性数据，或者读取当前扫频点以及前序扫频点对应相频特性数据；
S13，选取扫频点及其对应的幅频特性数据，或者选取扫频点及其对应相频特性数据，通过数值分析预测计算下一个扫频点频率值；
S14，判断计算完扫频段全部扫频点否，如未完则返回S12，继续扫频频率的计算；如已经完成扫频段全部扫频点计算，则结束。

专利类型：发明申请