一种相对位移测量方法及相对位移测量装置

标题：一种相对位移测量方法及相对位移测量装置

摘要：本发明公开了一种相对位移测量方法及相对位移测量装置，涉及结构强度试验技术领域。所述相对位移测量方法具体为，在第一待测结构和第二待测结构上分别安装基座，将应变片粘贴在基板上，基板两端通过拉线与所述基座固定连接，并消除安装间隙；将应变片与应变测量仪连接，根据应变片的应变计算第一待测结构与第二待测结构的相对位移。所述相对位移测量装置包含：基板，所述基板用于粘贴应变片；基座，所述基座安装在第一待测结构与第二待测结构上；拉线，所述拉线设置在所述基板的两端，用于连接基板与基座；应变测量仪，所述应变测量仪与应变片连接，用于测量所述应变片的应变值本发明的优点在于：本发明的方法操作方便，装置结构简单。

申请号：CN201710549986.1

申请日：2017/7/7

申请人：中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所

首项权利要求：一种相对位移测量方法，其特征在于：在第一待测结构(1)和第二待测结构(2)上分别安装基座(3)，将应变片(4)粘贴在基板(5)上，基板(5)两端通过拉线(6)与所述基座(3)固定连接，并消除安装间隙；将应变片(4)与应变测量仪(7)连接，根据应变片(4)的应变计算第一待测结构(1)与第二待测结构(2)的相对位移。

专利类型：发明申请