一种用于测量结构变形的测量方法

标题：一种用于测量结构变形的测量方法

摘要：本发明提供了一种用于测量结构变形的测量方法，其特征在于，包括以下步骤.确定结构待测量点未变形时点A0的几何位置(XA0，YA0，ZA0)；在待测量点引出三条不共面的射线，在每条射线方向上布置一个位移测量计，安装位置分别标记为点B、C、D，坐标为：(XB，YB，ZB)，(XC，YC，ZC)，(XD，YD，ZD)；计算未变形时待测量点A0距每个位移测量计安装点B、C、D的距离L1, L2, L3等。

申请号：CN201410535669.0

申请日：2014/10/11

申请人：中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所

首项权利要求：1.一种用于测量结构变形的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一.确定结构待测量点未变形时点A0的几何位置(XA0，YA0，ZA0)；
步骤二.在待测量点引出三条不共面的射线，在每条射线方向上布置一个位移测量计，安装位置分别标记为点B、C、D，坐标为：
(XB，YB，ZB)，(XC，YC，ZC)，(XD，YD，ZD)；
步骤三.计算未变形时待测量点A0距每个位移测量计安装点B、C、D的距离L1, L2, L3；
步骤四.结构变形后读出每个位移测量计测得的位移值D1, D2, D3；
步骤五.假设结构变形后位移测量点由A0运动至点A1，其几何位置变化为(XA1，YA1，ZA1), 根据空间几何学，以上几何参数之间存在以下相关方程 :
步骤六.解上面的方程组求出XA1，YA1，ZA1，从而确定了结构变形后测量点在初始坐标系下的空间位置，由此可计算得到变形后待测量点在初始坐标系下的三向位移X-DIS、Y-DIS、Z-DIS，分别为 :
步骤七.根据待测量点在初始坐标系下的三向位移X-DIS、Y-DIS、Z-DIS，进行坐标系转换即可精确计算出待测量点任意方向的位移。

专利类型：发明申请